• Tên sản phẩm: Thiết bị đo bề dày lớp phủ và vật liệu có thể xuất dữ liệu TI-CMXDLP
• Model: TI-CMXDLP
• Nhà cung cấp: Checkline - Mỹ
• Bảo hành: 12 tháng
• Giá: Liên hệ để có giá tốt nhất

Tự động nhận dạng đầu đo và hiệu chuẩn Zero
Ứng dụng rộng với các loại đầu đo cấu tử kép
Lựa chọn chế độ phát Rất thấp, thấp, trung bình, cao và rất cao
64 chương trình khách hàng cài đặt

Với cách đo xung phản hồi thì dải do là: 0.025 to 19.999 inches (0.63 to 500mm) đối với thép

Với cách đo lặp xung thì dải do là: 0.1 to 4 inches (2.54 to 102mm)

Đối với lớp phủ dải đo: 0.0005" - 0.1000" / Độ phân giải: 0.0001"

Với từng phần dải đo: (0.013 - 2.540 mm / Độ phân giải: 0.001 mm) 

Max lớp phủ: 0.1"(2.54mm)

Độ phân giải chung: 0.01mm

Màn hình: 4½ - Digit, 0.5" Backlit LCD 

Vận tốc sóng âm: 0.0492-0.3937 in/µs

 (1250 -10,000 m/sec) 

Đầu dò: đường kính 1/4", 5 MHz,

Loại: PEEK (Polyethylethylkytone) 

Cáp nối: 4ft. (1.2m) cáp không thấm với dung môi không phân cực, kết nối và ngắt nhanh chóng

Loại đầu ra: RS-232C (8, N, 1, đựoc cài đặt) 

Màn hình: 1/8 in. VGA grayscale display 62 x 45.7mm 

Nhiệt độ môi trường: -20 to 120° F (-30 to 50° C)

Nhiệt độ vật liệu: 0 to 200° F (-20 to 100° C) Special high temperature probes are optionally available 

3 pin 1.5V alkaline hoặc 1.2V NiCad AA  

Thời gian hoạt động 150 giờ với pin alkaline,100 giờ với pin nicad

Trọng lượng: 383g 

Kích thước: 63.5 W x 165 H x 31.5 D mm 

Ghi lại dữ liệu đọc được

Tự động tắt nguồn sau 5 phút không sử dụng